產(chǎn)品名稱：中國區(qū)總代 OSI王子計測 KOBRA-HB 相位差橢圓測量裝置 OSI王子計測

設(shè)備名稱 相位差/橢圓 測量裝置 橢圓偏振測量裝置 相位差測量裝置 帶有進樣 器的相位差測量裝置 設(shè)備類型 KOBRA-HB系列  KOBRA-WPR KOBRA-WR KOBRA-WFD 測量方法 平行尼科爾旋轉(zhuǎn)方法 旋轉(zhuǎn)偏振器法 平行尼科爾光譜法 平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法 旋轉(zhuǎn)式偏振片法 平行尼科爾旋轉(zhuǎn)方法 平行尼科爾旋轉(zhuǎn)方法 測量波長 450,500,550,590,630,680nm 400-800nm  （光譜學） 450，500，550，590，630，750nm 樣本大小 垂直入射角測定：30mm見方以上 入射角依存性：30mm?40×50mm，t 3以下 輪廓測量： 寬度50mm×長度可選 入射角依賴性： 30mm至40 ×50mm ， t 3或更小 測量區(qū)域 33毫米2（5.8毫米角：Jukoko面積） φ0.8mm（光譜學） 33毫米2（5.8毫米角：Jukoko面積） 軟件名稱   KOBRA-RE  KOBRA-PR  KOBRA-TW KOBRA-RE KOBRA - DSP / FD  KOBRA - RE 測量項目   面內(nèi)延遲測量 入射角依賴 波長色散特性 橢圓偏振測量 扭曲角測量 測試模式 面內(nèi)延遲測量 入射角依賴 波長色散特性 相位剖面 入射角依賴 波長色散特性

設(shè)備名稱 用于長樣本的相位差測量裝置 相位差測量裝置的偏光板 在線相位差計 在線相位差計 設(shè)備類型 KOBRA-WX *** 系列 KOBRA-WX *** / IR  系列 KOBRA-WI系列  KOBRA-WIS / RT 測量方法 平行尼科爾旋轉(zhuǎn)方法 平行尼科爾旋轉(zhuǎn)方法 平行尼科爾旋轉(zhuǎn)方法 平行尼科爾旋轉(zhuǎn)方法 測量波長 450，550，590，650nm 850,900,950,1000,1050,1100nm 590納米 樣本大小 取決于樣本階段   測量區(qū)域 33毫米2（5.8毫米角：Jukoko面積）     軟件名稱 KOBRA-DSP / X KOBRA-DSP / XIR   測量項目 相位差和方位角 分布 PVA基材和碘的延遲譜 相位差 相位差，方位角（Rth）

設(shè)備名稱 微區(qū) 相差測量裝置  相位差分布測量裝置 微區(qū) 橢圓計 一般膠片 在線相位差計 設(shè)備類型 KOBRA-CCD KOBRA-IMS SAPA  KOBRA-WI / SPC 測量方法 平行尼科爾旋轉(zhuǎn)方法 平行尼科爾光譜學 旋轉(zhuǎn)分析儀的方法 平行尼科爾光譜學 測量波長 590納米     樣本大小     測量區(qū)域         軟件名稱     測量項目 相位差分布，取向角分布 相位差分布，取向角分布的輪廓 相位差 相位差

中國區(qū)總代 OSI王子計測 KOBRA-HB  相位差橢圓測量裝置  OSI王子計測

設(shè)備名稱 極化方位測量儀 管 雙折射測量裝置 超高相位差測量裝置 便攜式橢圓偏振 測量裝置 設(shè)備類型 PAM-P 100 PAM-IMS 100 PAM-UHR 100 PAM-PTB 100 測量方法   平行尼科爾光譜學 平行尼科爾光譜學 旋轉(zhuǎn)分析儀的方法 測量波長 590納米   樣本大小   透明管，纖維，單軸拉伸膜 □40毫米，3毫米或更少 測量區(qū)域       天然發(fā)光體如面板 軟件名稱     測量項目 偏振方位角，透射率 相位差 相位差，方向角，雙折射 橢圓，橢圓形方位角

中國區(qū)總代 OSI王子計測 KOBRA-HB  相位差橢圓測量裝置  OSI王子計測

設(shè)備名稱 光軸測量裝置             設(shè)備類型 PAM-PR 300       測量方法 旋轉(zhuǎn)偏振片法 平行尼科耳旋轉(zhuǎn)法 正交尼科耳旋轉(zhuǎn)法       測量波長 590nm  選項： 450nm，630nm   樣本大小 □30?250mm  20mm厚度以下     測量區(qū)域 33  平方毫米（5.8平方毫米：光接收器表面）       軟件名稱     測量項目 偏振軸，方位角，相位差